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题目：参比样品应不含有被测杂质，一般要求氧和碳原子含量在（）以下。: ; ; ;
题目：光图定向法结果直观，操作（），误差（）。: 简单较大; 简单较小; 复杂较小; 复杂较大
题目：硅晶体中，氧的分凝系数（）1，碳的分凝系数（）1。: 大于大于; 小于小于; 小于大于; 大于小于
题目：红外线通过样品时，对于硅单晶反射率R为（）。: 40%; 10%; 20%; 30%
题目：晶面间距可用字母d表示，以下哪项表达式为立方晶系的晶面间距（）。: ; ; ;
题目：晶面指数最低的晶面总是具有（）的晶面间距。: 最大; 最小; 相等; 无法判断
题目：抛光时，抛光液HF与体积比为（）。: 1:00; 1:05; 1:03; 1:02
题目：区熔工艺中，第一次区熔时，第一次熔区停留挥发时间（）左右。: 5min; 10min; 20min; 3min
题目：双光束光栅红外分光光度计，测碳的分辨率应不大于（）。: ; ; ;
题目：为防止污染，第一熔区和最后熔区要离开上下夹头（）。: ; ; ;
题目：我国政府规定每天受射线辐射剂量应在（）r以下。: 0.02; 0.05; 0.03; 0.04
题目：样品对红外光的反射率越（），吸收系数越（），那么红外光的透射率就越小。: 高小; 低小; 高大; 低大
题目：样品制备中选择样品厚度的原则是使吸收峰处的透射率为（）。: 10%-80%; 20%-70%; 10%-70%; 20%-80%
题目：以下表示晶面指数最恰当的是（）。: -66400%; -24600%; -46300%; -33300%
题目：直拉单晶中氧含量头部与尾部相比（）。: 较低; 无法判断; 较高; 相同
题目：K系辐射线可以细分为及，他们辐射的强度比约为（）。: 4:00; 3:00; 1:00; 2:01
“题目：X射线定向法的误差可以控制在（）范围内，准确度高。
: ±15´
; ±30´
; ±10´
; ±20´”
题目：X射线剂量用伦琴表示，符号用r,根据国际放射学会议规定，普通人的安全剂量应为每周不超过（）r。: 50%; 40%; 20%; 30%
题目：X射线在医疗诊断方面得到广泛应用，主要是依赖其（）。: 电离作用; 感光作用; 穿透性强; 衍射作用
题目：布喇格定律成立需满足以下（）条件。: 入射线反射线和反射晶面的法线在同一平面，且入射线和衍射线处法线两侧; ; ; 入射角等于反射角
题目：对于金刚石结构和闪锌矿结构的晶体，只有符合以下（）规则的晶面才有衍射线。: h,k,l必须全为复数; 当h,k,l全为偶数时，h+k+l必须能被4整除; h,k,l必须全为质数; h,k,l必须全为奇数或全为偶数
题目：对于连续X射线谱，当逐渐增加管压时，有如下（）规律。: 无明显特征变化; 短波极限值的波长向短波方向移动; 各种波长射线的相对强度一致增加; 最高强度射线的波长向短波方向移动
题目：关于晶面指数，以下说法正确的是（）。: 和X,Y轴都平行但与Z轴相交于一个单位长度处的密勒指数为（001）; 与Y轴平行但与X轴和Z轴都相交于一个单位长度处的密勒指数为（010）; 和X,Y轴都平行但与Z轴相交于一个单位长度处的密勒指数为（110）; 与Y轴平行但与X轴和Z轴都相交于一个单位长度处的密勒指数为（101）
题目：硅单晶光点定向测试中运用的仪器设备有以下（）。: X光; 光屏; 光源; 光点定向仪
题目：某样品受到红外线照射时，会产生以下（）现象。: 反射; 透过; 吸收; 折射
题目：抛光时对于样品表面有（）要求。: 无氧化; 无浅坑; 无划道; 无沟道
题目：硼检采用快速区熔法的工艺，对与以下区熔条件说法正确的是（）。: ; 熔区行程以10倍熔区为宜; 区熔宽度以棒的直接为参考; 提纯次数：硼检10次
题目：碳在硅晶格中红外吸收峰有两个，其振动频率为（）。: ; ; ;
题目：通常用来制作靶的金属材料有（）。: 铬; 铁; 银; 铜
题目：为避免引起衍射混乱，一般选用比阳极材料原子序数小的材料做滤光片，以下适宜的是（）。: 铜靶的滤光片采用镍; 钼靶的滤光片采用铌; 钴靶的滤光片采用铁; 钼靶的滤光片采用锆
题目：样品加工主要包括以下（）步骤。: 连接电脑测试系统; 研磨; 抛光; 取样
题目：以下（）选项都需要考虑晶体取向的影响。: 管芯划片方向; 单晶片的制备; 单晶材料制备; 器件的制作
题目：由于硅晶体经历了各种温度的热处理，过饱和的间隙氧会在硅晶体中偏聚和沉淀，形成了（）。: 氧沉淀; 氧分离; 氧施主; 二次缺陷
题目：在立方晶系中，主要有如下（）性质。: ; ; ;
题目：X射线的衍射法精确度高，它受以下（）因素影响。: 天气温度; X射线束的发散性; 转角鼓轮读数轮刻度的精度; X射线束准直性
题目：X射线定向仪主要有以下（）部分组成。: X射线发生部分; 转角测量部分; X射线检测部分; 样品台
题目：X射线对人体作用有严重影响，可表现为（）。: 毛发脱落; 血液组成变化; 组织灼伤; 生殖影响
题目：X射线主要有以下（）性质。: 感光作用; 荧光作用; 衍射作用; 电离作用
题目：.放射线同位素的量越多，放出的射线的强度越少。
题目：纯水制备系统过程中原水箱回流阀要全关闭。
题目：纯水制备系统要每周检测一次砂滤出水SDI值，若SDI值超过5，就要检查原因。
题目：对三氯氢硅中痕量杂质的分析采用化学药剂提纯法。
题目：工厂生产的阳离子交换树脂一般为氯型。
题目：硅单晶中线度小于10-4cm的缺陷称为微陷
题目：混床交换在再生处理时，阴离子交换树脂和阳离子交换树脂充分混合。
题目：活性炭过滤器在作为反渗透装置的前处理是是受本身进水温度、PH值和有机混合物的影响的。
题目：离子交换法是利用离子一次性交换和树脂一次性交换进行的。
题目：离子交换法制备纯水用一种阴树脂或氧树脂就可得到酸性水或碱性水。
题目：露点法检测气体中的水分是通常测-34℃以下气体观察到的是露点。
题目：气相色谱法测定干法H2的组成存在的环境因素是潜在的氢气泄露引起的燃烧核爆炸。
题目：色谱法基本原理是基于时间的差别进行分离。
题目：树脂失效表明离子交换树脂可供交换的和大为减少。
题目：为了使氢离子和氢氧根离子完全结合成水，阴、阳树脂必须交换出等量的离子。
题目：新树脂使用前应进行预处理：膨胀处理和变形处理。
题目：只有多介质过滤器处于运行时才能对活性炭过滤器进行日常维护。
题目：制取高纯水时一般采用强碱型阴离子交换树脂。
题目：自动软化系统EBT测定如未软化，测试液呈红色则需再生。
题目：RO系统清洗过程应密切注意清洗液温度上升，不得超过35℃。
“题目：将下列利用晶体外观来判断晶体生长方向的关系一一对应。
(1) [111] A）二条轴对称的棱线
(2) [100] B）三条轴对称的棱线
(3) [110] C）四条轴对称的棱线 {（1）
; （2）
; （3）
} -> {C; B; A}”
“题目：将以下X射线定向仪主要构成部分一一对应。
（1）X射线发生部分 A）吸盘
（2）X射线检测部分 B）X射线管
（3）样品台 C）盖革计数管和计数时率计 {（3）
; （2）
; （1）
} -> {B; C; A}”
“题目：由于晶胞参数关系，在立方晶体中，某些晶面和晶向是相互垂直的，请一一对应。
(1)[100]晶向 A）[111]晶面
(2)[111]晶向 B）[100]晶面
(3)[110]晶向 C）[110]晶面 {（1）
; （2）
; （3）
} -> {B; C; A}”
题目：将下列立方晶系部分晶面间的夹角关系一一对应
题目：将以下几种晶面腐蚀后的特征一一对应
题目：红外线通过样品时可根据能量不灭定律表示为
题目：多晶硅中基硼含量式。
题目：硅中氧和硅原子之间组成非线性
题目：硅中氧吸收峰的强弱与波长关系，请一一对应。
题目：在实际测量中，求可用如下公式
