试卷号1107传感器与测试技术2008年7月电大期末考试答案

中央广播电视大学2007—2008学年度第二学期“开放本科”期末考试
2008年7月  试卷代号：1107  传感器与测试技术 试题

一、简答题(每小题5分，共20分)
1．传感器：
2．静特性：
3．霍尔效应：
4．压电效应：
二、选择题(选择正确的答案，将其对应的字母填入括号内，每空3 分，共12分)
5．在光的作用下，能够使物体内部产生一定方向的电动势的现象叫( )。
A．声光效应 B．热释电效应
C. 光电导效应 D‘光生伏特效应
6．应变片绝缘电阻R。是指已粘贴的应变片的引线与被测试件之间的电阻值，通常
要求R。的范围是( )。

7．利用光生伏特效应制成的光电器件有光敏二极管、光敏三极管和光电池等。利用 ( )可制成半导体光敏电阻。利用( )制成的光电器件有真空光电管、充气光电管和光电倍增管。
A．压电效应 B．外光电效应
C. 磁电效应 D．声光效应
E．光电导效应
三、问答题(每小题6分，共24分)
8．无失真检测的条件是什么?
9．什么叫金属应变片的横向效应?
10．磁电式传感器有何优点?
11．简述电容式传感器的工作原理。
四、简答题(16分)
12．请画出两种霍尔元件的驱动电路，简述其优缺点。
五、简述题(16分)
13．常用的超声波探伤方法有哪些?各有什么特点?
六、论述题(12分)
14．简述传感器的选用原则与设计测试系统时应考虑的因素。